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當前位置:首頁產品中心光度色度LCD/OLED缺陷自動光學檢測系統(tǒng)OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng)

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng)
產品簡介:

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng) 通道數量:32、64、128,可擴展到512 路;測量模式1:恒流、恒壓、恒亮度,需根據客戶需求選定

產品型號:

更新時間:2025-11-08

廠商性質:代理商

訪問量:3210

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產品介紹

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng) 

32 路系統(tǒng)                              64 路系統(tǒng)

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng) 

項目

關鍵指標

備注

通道數量

32、64、128

可擴展到512 路

測量模式1

恒流、恒壓、恒亮度

需根據客戶需求選定

測量模式2

Pulse 電壓、Pulse 電流

選配

電流輸出

0.03uA~100mA,精度優(yōu)于±1%

用戶參照核心技術電流源選配

電壓輸出

飽和亮度

1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

標配

可根據客戶需求定制

器件結構

底發(fā)光、頂發(fā)光、倒裝、正裝

需根據用戶需求定制

測試盒/ 夾具

測試基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高溫測試

RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;環(huán)境測試

選配

特殊條件

特殊氣氛測試;手套箱測試;UPS 電源等

選配、定制

軟件平臺

LabView

穩(wěn)定、高效

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