一套用于皮秒時間分辨的超快熒光測試系統(tǒng)解決方案，為您提供ps-ns-us 量級的超快熒光壽命或超快等離子體衍化過程的快速測量。

產(chǎn)品型號：L100（500）A-PF-120

更新時間：2025-11-08

廠商性質(zhì)：代理商

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激光與量測

CODIXX高消光比偏振片動態(tài)干涉儀傳遞函數(shù)(MTF)測試系統(tǒng) 高精度焦點分析儀量子級聯(lián)激光器鏡頭及光學元件測試設(shè)備激光波長計氦氖激光器波前分析儀超快激光器氣體激光器連續(xù)激光器 YAG激光器固體激光器激光能量計探頭激光M2因子分析儀可調(diào)諧激光器激光光譜儀

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產(chǎn)品介紹

系統(tǒng)主要功能指標：

寬光譜測量范圍：UV-VIS-NIR, 200-900nm;
高系統(tǒng)時間分辨率： <=5ps
壽命衰減測量時間范圍：<=50ps—100us
高系統(tǒng)光譜分辨率： <0.1nm
寬單次成譜范圍： >=200nm
靜態(tài)（穩(wěn)態(tài)）光譜采集，
瞬態(tài)時間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線
系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件

超快時間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進行分光，分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上，激發(fā)出的光電子通過陽極加速，入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間，此時電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上，光電子被電場偏轉(zhuǎn)，激射熒光屏，以光信號的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號還可以再通過圖像增強器進行能量放大，并在圖像增強器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機采集熒光屏上信號。因為電子的偏轉(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比，因此，通過電極的時間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來，也就是將入射光的時間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等，圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析

主要應(yīng)用方向

超快化學發(fā)光
超快物理發(fā)光
超快放電過程
超快閃爍體發(fā)光
時間分辨熒光光譜，熒光壽命，
半導(dǎo)體材料時間分辨PL譜
鈣鈦礦材料時間分辨PL譜

瞬態(tài)吸收譜，時間分辨拉曼光譜測量
光通訊，量子器件的響應(yīng)測量
自由電子激光，超短激光技術(shù)
各種等離子體發(fā)光
湯姆遜散射，激光雷達
。。。。。。

光譜儀建議選型參數(shù)列表

光譜儀型號	Omni-λ2002i		Omni-λ3004i		Omni-λ5004i		Omni-λ7504i
光譜儀焦距	200mm		320mm		500mm		750mm
相對孔徑	F/3.5		F/4.2		F/6.5		F/9.7
光譜分辨率（1200l/mm）	0.3nm		0.1nm		0.08nm		0.05nm
波長準確度	+/-0.2nm		+/-0.2nm		+/-0.15nm		+/-0.1nm
倒線色散(1200l/mm)	3.6nm/mm		2.3nm/mm		1.7nm/mm		1.1nm/mm
光柵尺寸	50*50mm		68*68mm		68*68mm		68*68mm
光柵臺	雙光柵		三光柵		三光柵		三光柵
與探測器耦合	中繼光路1:1耦合，配合二維焦面精密調(diào)節(jié)一體化底板
系統(tǒng)光譜分辨率(1200l/mm)	<=0.3nm	<=0.2nm		<=0.1nm		<0.08nm
一次攝譜范圍(150 l/mm)	>230nm	>150nm		>90nm		>60nm
光譜儀入口選項	光纖及光纖接口，標準熒光樣品室，鏡頭收集耦合，共聚焦顯微收集耦合等

多系統(tǒng)靈活組合

超快時間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨立的光譜測試，也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)，以及低溫制冷室，飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復(fù)雜全面的超快測試。